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日本yokogawa光譜分析儀AQ6374

日本yokogawa光譜分析儀AQ6374

產品型號:

所屬分類:流變儀

產品時間:2021-10-25

簡要描述:日本yokogawa光譜分析儀AQ6374
波長范圍:350-1750nm
波長分辨率設置:0.05-10nm
寬電平范圍:+20 至 -80dBm
波長精度:&#177; 0.05 nm
電平靈敏度:-80 dBm
動態范圍:60 分貝
波長采樣數:100001點
用于校準/波長校準的內置光源
吹掃機制

詳細說明:

日本yokogawa光譜分析儀AQ6374

  • 波長范圍:350-1750nm

  • 波長分辨率設置:0.05-10nm

  • 寬電平范圍:+20 至 -80dBm

  • 波長精度:± 0.05 nm

  • 電平靈敏度:-80 dBm

  • 動態范圍:60 分貝

  • 波長采樣數:100001點

  • 用于校準/波長校準的內置光源

  • 吹掃機制

日本yokogawa光譜分析儀AQ6374


光學性能

波長范圍:350-1750nm

一個單元涵蓋從可見光到光通信波長的寬波長范圍。
它可用于評估各種設備。

波長分辨率設置:0.05-10nm

可用于DFB-LD和VCSEL的發射光譜測量以及光纖的波長損耗特性等廣泛的應用。

寬測量電平范圍:+20 至 -80dBm

從高功率信號測量到弱光測量,您可以根據應用和測量速度等條件從 7 個級別中選擇合適的測量靈敏度設置。

可用空間輸入

不僅可以使用單模光纖和多模光纖,還可以使用800μm大直徑光纖。

吹掃機制

在 1380 nm 附近的波長范圍內,由于水蒸氣的影響,觀察到強烈的光吸收,這可能會干擾測量。
AQ6374通過從背面的供氣口/排氣口向單色器內部連續供給氮氣等吹掃氣體,可以降低水蒸氣光吸收對測量的影響。

內置高階衍射光截止濾光片

根據測量波段自動設置用于去除不必要的階次重疊的濾光片。

出色的測量吞吐量

高速光譜測量

采用先進的單色器技術、高速電路、新創的降噪技術,實現高速光譜測量。
對于測量激光和弱信號等急劇上升的光譜非常有用。

波長樣本數:100001

將波長樣本數加倍。您可以同時測量更寬的波長范圍,同時保持高分辨率。
解決了數據點數量不足導致波長分辨率顯著下降、波長范圍劃分測量效率低下等問題,使測量更加準確、高效。




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